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JJF1254-2010(数显测高仪校准规范)

2025-06-15 15:19:01

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2025-06-15 15:19:01

在现代工业生产和精密测量领域中,数显测高仪作为一种重要的测量工具,被广泛应用于各种高精度尺寸检测任务。为了确保数显测高仪的测量结果准确可靠,国家制定了《JJF1254-2010 数显测高仪校准规范》,为该类仪器的校准提供了统一的技术依据和操作标准。

本规范明确了数显测高仪校准的基本要求、校准环境条件、校准项目及方法等内容。它不仅涵盖了数显测高仪的主要技术指标,如示值误差、重复性等,还详细规定了校准时所需使用的标准器及其技术要求。通过实施这一规范,可以有效提升数显测高仪的测量精度与稳定性,保障其在实际应用中的可靠性。

此外,《JJF1254-2010 数显测高仪校准规范》还特别强调了校准过程中的安全注意事项以及记录保存的重要性,这对于维护设备的良好运行状态具有重要意义。总之,遵循该规范进行定期校准是保证数显测高仪长期保持高性能的关键步骤之一。

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